MALDI-TOFMSシステム JMS-S3000
機器名・型式 | MALDI-TOFMSシステム JMS-S3000 |
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メーカー名 | 日本電子(株) |
納入会社名 | 日本電子(株) |
機器管理責任者 | 古地 壯光(所属) 薬・生体分析化学研究室(内線2580) |
設置場所 | 機器分析センター 107室 |
文部科学省助成機器 | |
納入年月日 | 2018年3月28日 |
測定責任者 |
1. 本機の特色と性能
本装置は、マトリックス支援レーザー脱離イオン化(MALDI: Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization)法によるイオン源に2台の飛行時間型質量分析装置(TOF-MS: Time-of-flight mass spectrometry)を直列に接続したMALDI-TOF/TOF質量分析装置である。非常に簡単な試料調製で比較的ソフトなイオン化ができ、それ故、合成高分子から生体由来試料まで、様々な試料の質量数を高感度・高精度に測定することが可能となっている。
測定モードには、17m長のらせん状イオン軌道を飛行させる「スパイラルTOFモード」、イオン源から検出器までイオンを直線的に飛行させる「リニアモード」、および、特定のm/zのイオンを捕捉後、不活性ガスとの高エネルギー衝突誘起解離(HE-CID: High-Energy Collision Induced Dissociation)を介してMS/MSスペクトルを得る「TOF/TOF モード」があり、さらにプラスに帯電したイオンを検出する「ポジティブモード」ならびにマイナスに帯電したイオンを検出する「ネガティブイオンモード」の計6通りの測定が可能である。また、酸化インジウムスズ(ITO, indium-tin-oxide)を表面にコートした透明導電膜スライドガラスを用いることで組織切片などのマスイメージング解析も可能である。
測定モードには、17m長のらせん状イオン軌道を飛行させる「スパイラルTOFモード」、イオン源から検出器までイオンを直線的に飛行させる「リニアモード」、および、特定のm/zのイオンを捕捉後、不活性ガスとの高エネルギー衝突誘起解離(HE-CID: High-Energy Collision Induced Dissociation)を介してMS/MSスペクトルを得る「TOF/TOF モード」があり、さらにプラスに帯電したイオンを検出する「ポジティブモード」ならびにマイナスに帯電したイオンを検出する「ネガティブイオンモード」の計6通りの測定が可能である。また、酸化インジウムスズ(ITO, indium-tin-oxide)を表面にコートした透明導電膜スライドガラスを用いることで組織切片などのマスイメージング解析も可能である。
2. 付属装置とその性能
- カラープリンター
- 解析用PC(マスイメージングビューアプログラム)
- DiNa MR(384 well plate中の試料をマトリックスと自動で混合し、質量分析用サンプルプレートにスポットする装置)
3. 使用規定および使用上の注意
- 測定に必要な試薬、溶剤は利用者が用意して下さい。
- 使用開始前に異変がないかを確認して下さい。
- 測定室利用中は利用者講習を受講した者が責任を持って管理をし、整理整頓に心掛け、清潔を維持して下さい。利用目的以外に測定機器をみだりにいじらないで下さい。
- 研究室ごとに購入したMALDIプレートを使ってください。
- 装置に直接つながっているPCにはUSBメモリーを差さないで下さい。データはもう一台連結しているPCから移すようにして下さい。
- 装置の不備や故障、消耗品が残り少ないなどの場合は、使用必ず管理者に連絡して下さい。
- 装置使用後は、備え付けのノートに必要事項をご記入してください。
JMS-S3000についてのご質問連絡先は
日本電子株式会社 0120-134-788
4. 使用者小委員会の構成
現在のところ設定していない。